OEPM Calidad

Auditoría de Vigilancia Tecnológica e Inteligencia Competitiva

El pasado 5 de Julio, se ha realizado la Auditoría de seguimiento de la Oficina Española de Patentes y Marcas, conforme a la norma UNE 166006:2011, Gestión de la I+D+i, Sistema de Vigilancia tecnológica e Inteligencia competitiva (VT/IC)

El auditor de AENOR ha comprobado que el Sistema de VT/IC de la OEPM se encuentra implantado de manera adecuada y cumple con los requisitos de la norma y los propios del Sistema, no habiendo detectado ninguna no conformidad.

La consolidación de este certificado, obtenido por la OEPM en 2008 como norma experimental, supone un reconocimiento a la labor diaria del personal de los departamentos de la OEPM implicados en el alcance del Sistema de VT/IC.

La norma 166.006, de especial utilidad para todas aquellas organizaciones que realicen actividades de I+D+i, estructura el proceso de escucha y observación del entorno para apoyar la toma de decisiones. En este sentido, el patrimonio de información sobre patentes que ofrece la Oficina Española de Patentes y Marcas, a través de los servicios de información tecnológica, se convierte en una herramienta indispensable.